| 【中文题名】 | 内射测试集和（强）余半遗传环 |
| 【英文题名】 | Injective Test Sets and (Strongly) C0-semihereditary Rings |
| 【学科专业】 | 基础数学 |
| 【论文级别】 | 硕士论文 |
| 【投稿时间】 | 2002-4-2 |
| 【中关键词】 | 内射模,测试集,同调维数,（强）余半遗传环,, |
| 【英关键词】 | Injective modules Test sets Homological dimensions （Strongly） Co-hereditary, |
| 【分类导航】 | 数理科学和化学>数学>代数、数论、组合理论>抽象代数（近世代数）>> |
| 【论文摘要】 |
近年来，对内射模的研究已经取得了许多令人鼓舞的进展，特别是内射测试集和同调维数的研究。我们继续研究了半素Noetherian环和左FBN环的内射测试集以及交换Artinian环和(强)余半遗传环的同调维数及(强)余半遗传环的刻画。其中(强)余半遗传环首先在[15]中研究，Weimin xue在[14]中命名并进一步刻画。
在第一章，我们研究了内射测试集和同调维数。在[7]．[8]和[9]，环的内射测试集已被研究。关于半素Noetherian环和左FBN环的测试集我们有
定理1．2．6：设R是半素Noetherian环且每个素理想都有AR性质，设S={P∈S：P是R的素左理想且当P是一个双边理想时，R_P不是一个除环。则S是一个内射测试集。
定理1．2．7：设R是一个FBN环且每个素理想都有AR性质，S={PESpec(R)：R_P不是一个除环。则S是一个内射测试集。
关于交换Artinian环的同调维数，我们获得了
定理1．3．1：设R是一个Z-分次环，E是一个分次左R-模且是分次内射的。如果R是一个交换Artinian环，则E是一... |
| 【论文题纲】 |
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第一部分： |
3-9 |
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1 内容摘要 |
3-6 |
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2 Abstract |
6-9 |
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第二部分： |
9-24 |
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第一章 |
9-17 |
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§1．1 |
9-11 |
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§1．2 |
11-14 |
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§1．3 |
14-17 |
|
第二章 |
17-24 |
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§2．1 |
17-20 |
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§2．2 |
20-24 |
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第三部分： |
24-27 |
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参考文献 |
24-27 |
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致谢 |
27 |
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| 【DOI】 | LunWen.ID:2.2008.10722 |
