| 【中文题名】 | 用传输线输入阻抗原理确定屏蔽体屏蔽性能 |
| 【英文题名】 | To Confirm the Shielding Performance of Shielding Body by Using the Theory of Input Impedance of Transmission Line |
| 【学科专业】 | 电磁场与微波技术 |
| 【论文级别】 | 硕士论文 |
| 【投稿时间】 | 2007-10-9 |
| 【中关键词】 | 屏蔽,电磁场,传输线,反射系数,电压,电流 |
| 【英关键词】 | shield,electromagnetic field,transmission line,reflectance,voltage,current, |
| 【分类导航】 | 工业技术>无线电电子学、电信技术>一般性问题>结构>> |
| 【论文摘要】 |
屏蔽是抑制与减少电磁干扰的重要措施．屏蔽理论为解决屏蔽工程设计提供基本的理论依据．因此屏蔽理论的探讨具有很强的实际意义．
对理想化的屏蔽体如无限平面的均匀屏蔽体，均匀无限长圆柱屏蔽体，均匀球形屏蔽体，皆可通过运用电磁场边界条件解电磁场本方程(麦克斯韦方程)，来分析屏蔽体的屏蔽性能．
本文采用传输线法，通过运用传输线方程，探讨屏蔽体的屏蔽性能．能够避免使用边界条件和解联立方程．整个过程物理意义清晰，简单易于理解．通过电压和电流的关系阐述屏蔽体屏蔽性能的深刻含义．为解决屏蔽体屏蔽性能的理论探索提供了一种方法． |
| 【论文题纲】 |
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摘要 |
4-5 |
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ABSTRACT |
5-8 |
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绪论 |
8-9 |
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第一章 屏蔽原理与分类 |
9-12 |
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1.1 主动屏蔽条件下的静电屏蔽,电磁屏蔽,磁屏蔽 |
9-10 |
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1.2 被动屏蔽条件下的静电屏蔽,电磁屏蔽,磁屏蔽 |
10-12 |
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第二章 传输线基本理论 |
12-14 |
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2.1 在一端激励的传输线上任意点电压电流表示法 |
12-13 |
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2.2 传输线上任意点的输入阻抗 |
13-14 |
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第三章 平板屏蔽体的基本理论 |
14-17 |
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3.1 直角系下麦克斯韦方程 |
14 |
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3.2 波阻抗 |
14-17 |
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3.2.1 金属屏蔽体的波阻抗 |
14-15 |
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3.2.2 介质波阻抗 |
15-17 |
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第四章 用电磁场边界条件分析屏蔽体的屏蔽性能 |
17-19 |
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4.1 屏蔽衰减 |
17-18 |
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4.2 反射系数 |
18-19 |
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第五章 研究多层屏蔽体的屏蔽特性的意义 |
19-21 |
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5.1.放置次序对屏蔽效果的影响 |
19 |
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5.2.双层屏蔽体可以比单层同样厚度的屏蔽体具有更好的屏蔽特性 |
19-20 |
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5.3.多层屏蔽体的最佳厚度 |
20 |
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5.4.多层屏蔽体的材料选择 |
20-21 |
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第六章 电磁屏蔽的主要特性和规律 |
21-25 |
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6.1 影响屏蔽效果的主要物理量 |
21-22 |
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6.2 导电率σ对屏蔽特性的影响 |
22-24 |
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6.3 屏蔽效能的定量评价的不确定性对实际屏蔽效能的影响 |
24-25 |
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第七章 用传输线法分析平板屏蔽体的屏蔽性能 |
25-34 |
|
7.1 用传输线法分析单层平板屏蔽体的屏蔽性能 |
25-27 |
|
7.1.1 屏蔽体表面的反射系数 |
25-26 |
|
7.1.2 传输线始末两端电压电流关系 |
26 |
|
7.1.3 屏蔽系数 |
26-27 |
|
7.2 用传输线法分析双层平板屏蔽体的屏蔽性能 |
27-34 |
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7.2.1 始端输入阻抗 |
28-29 |
|
7.2.2 屏蔽系数表达式 |
29 |
|
7.2.3 电压反射系数P |
29-30 |
|
7.2.4 屏蔽系数 |
30-34 |
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第八章 用传输线法分析球壳屏蔽体的屏蔽性能 |
34-48 |
|
8.1 用传输线法分析单层球壳屏蔽体的屏蔽性能 |
34-38 |
|
8.1.1 传输线法表示的屏蔽关系式 |
35 |
|
8.1.2 反射系数P |
35-36 |
|
8.1.3 屏蔽系数 |
36-38 |
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8.2 用传输线法分析双层球壳屏蔽体的屏蔽性能 |
38-48 |
|
8.2.1 始末端电压电流关系式 |
38 |
|
8.2.2 反射系数 |
38-41 |
|
8.2.3 屏蔽系数表达式 |
41-48 |
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参考文献 |
48-49 |
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附录1.用传输线法分析三层平板屏蔽体的屏蔽性能 |
49-65 |
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附录2.用波动法验证三层平板屏蔽体的屏蔽系数 |
65-72 |
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附录3.用传输线法分析三层球壳屏蔽体的屏蔽性能 |
72-99 |
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后记 |
99-100 |
|
致谢 |
100-101 |
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攻读学位期间发表的学术论文目录 |
101 |
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| 【DOI】 | LunWen.ID:2.2008.343387 |
