| 【中文题名】 | 电子器件噪声的分形分析方法及软件研究 |
| 【英文题名】 | Research on the Fractional Analyzing Method and Software of Noise in Electronic Device |
| 【学科专业】 | 材料学 |
| 【论文级别】 | 硕士论文 |
| 【投稿时间】 | 2007-10-12 |
| 【中关键词】 | 噪声,分形分析,奇异性,分形维数,关联性, |
| 【英关键词】 | Noise,Fractional analysis,Singularity,Fractional dimension,Correlation property, |
| 【分类导航】 | 工业技术>无线电电子学、电信技术>电子元件、组件>一般性问题>理论> |
| 【论文摘要】 |
随着微电子技术不断发展，半导体器件已经达到深亚微米尺度。由于半导体器件的噪声与器件激活区域的面积成反比，所以深亚微米器件的噪声倍受人们关注，电子器件的内部噪声(特别是以1／f噪声为代表的低频噪声)，是制约器件灵敏度和精度的一个关键指标，同时也是表征器件质量和可靠性的一个重要敏感参数。噪声作为电子器件可靠性的表征方法和电路模块的诊断工具在国际上已得到相当广泛的研究和应用，其中1／f噪声是最具有研究价值。
由于噪声信号并不是完全随机的，还具有一定的相关特性，功率谱分析就成为其最常用的分析方法。该方法基于傅里叶变换的频谱特征参数(主要是点功率谱、拟合功率谱幅值和γ指数)的提取，注重了对噪声信号的整体关联性的表征，而忽略了信号时间域的局部奇异性。而且对于非平稳信号处理，功率谱分析方法效果也不好。由于功率谱的种种不足，使人们迫切需要一种新的噪声分析方法。分形分析方法就是一种很有潜力的新方法。
分形学主要研究对象是自然界中存在的不规则、不光滑的物体，而噪声就是不规则的、处处奇异的信号。本文选取了几种典型的噪声分形分析方法，它们包括噪声分维的计算方法，去趋势分析方法，多分形奇异谱以及局部h(?)l... |
| 【论文题纲】 |
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摘要 |
3-4 |
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Abstract |
4-8 |
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第一章 绪论 |
8-10 |
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1.1 课题研究意义 |
8-9 |
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1.2 全文内容安排 |
9-10 |
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第二章 传统电噪声分析方法的不足及分形方法的特点 |
10-22 |
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2.1 半导体器件噪声的分类和特点 |
10-13 |
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2.2 半导体器件噪声传统分析方法 |
13-16 |
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2.2.1 概率密度函数与均值 |
14-15 |
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2.2.2 功率谱密度 |
15-16 |
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2.3 传统分析方法的不足 |
16-18 |
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2.4 分形理论及其特点 |
18-22 |
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第三章 分形维数的定义及其计算方法 |
22-32 |
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3.1 分维概念的诞生 |
22-25 |
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3.2 几种常见的维数定义 |
25-28 |
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3.3 软件流程与验证 |
28-30 |
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3.4 噪声信号的分维 |
30-32 |
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第四章 噪声信号的奇异性研究方法与应用 |
32-56 |
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4.1 多重分形的定义 |
32-35 |
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4.2 小波理论 |
35-37 |
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4.3 噪声信号奇异点的提取方法 |
37-39 |
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4.4 基于子波分解模极大的多重分形奇异谱的算法 |
39-44 |
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4.5 局部奇异值的计算 |
44-48 |
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4.6 软件应用 |
48-56 |
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4.6.1 电迁移过程中信号奇异性的变化 |
48-51 |
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4.6.2 光耦器件的筛选 |
51-56 |
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第五章 噪声信号的关联性分析方法及应用 |
56-64 |
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5.1 去趋势分析算法简介 |
56-59 |
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5.2 软件流程与验证 |
59-61 |
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5.3 电迁移噪声关联性分析 |
61-64 |
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第六章 总结与展望 |
64-66 |
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6.1 论文成果 |
64 |
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6.2 展望 |
64-66 |
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致谢 |
66-68 |
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参考文献 |
68-72 |
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在研期间主要研究成果 |
72 |
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| 【DOI】 | LunWen.ID:2.2008.343793 |
