| 【中文题名】 | 过程控制图的最优设计与分析 |
| 【英文题名】 | |
| 【学科专业】 | 管理科学与工程 |
| 【论文级别】 | 硕士论文 |
| 【投稿时间】 | 2003-9-15 |
| 【中关键词】 | 控制图,平均运行长度(ARL),平均产品长度(ARL),样本容量,抽样比例,控制线参数 |
| 【英关键词】 | Control Chart,Average Run Length (ARL),Average Product Length (APL),Subgroup Size,Sampling Rate,Control Limit,Robust Design,False Alarm Rate, |
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| 【论文摘要】 |
控制图是用于分析和判断工序是否处于控制状态所使用的带有控制界限的图,它通过图形的方法,显示生产过程随时间变化的质量波动,并分析判断它是由于偶然因素还是由于系统因素造成的,从而提示管理者及时采取相应的措施,消除系统因素的影响,保持工序的稳定状态而进行的动态控制的统计方法。它是企业中进行质量管理和控制的基本方法之一,对产品质量的好坏起着至关重要的作用。本文就控制图的设计和使用进行了较为全面的分析和研究。
本文首先介绍了质量管理和统计过程控制的背景知识,指出当今使用最为广泛的休哈特控制图的缺陷,提出一种设计控制图的简单有效的方法。通常样本容量、抽样比例和控制线的选择是设计控制图的三个主要指标。本文以平均运行长度(APL)为衡量控制图有效性的标准,以抽样比例和最大可接受错误报警率为输入,通过建立模型的方法,确定最佳的样本容量和控制线参数。
把这种方法扩展到一些特殊的控制图的设计当中,本文除了讨论测量值服从正态分布的情形外,还分别分析了偏态分布、小批量生产、小波动的探测和计数型控制图等情形时最优控制方案的设计。
最后,为了使这种设计方法更好的运用于实践,结合实际操作中工... |
| 【论文题纲】 |
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第一章 绪论 |
7-15 |
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1.1 21世纪--质量的世纪 |
7 |
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1.2 统计过程控制(SPC) |
7-8 |
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1.3 工序过程控制的背景 |
8-13 |
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1.3.1 波动引起产品缺陷 |
9 |
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1.3.2 波动产生的原因 |
9-10 |
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1.3.3 随机变量的统计规律性 |
10-12 |
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1.3.4 新质量损失原理 |
12-13 |
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1.3.5 控制图的基本原理 |
13 |
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1.4 本文的内容和意义 |
13-14 |
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1.5 本章小结 |
14-15 |
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第二章 控制图性能的度量 |
15-19 |
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2.1 ARL简介 |
15-16 |
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2.2 APL的基本原理 |
16-18 |
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2.3 本章小结 |
18-19 |
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第三章 正态分布下控制图的设计分析 |
19-37 |
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3.1 休哈特控制图的设计思想 |
19 |
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3.2 用APL进行控制方案的设计 |
19-21 |
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3.3 设计方案的灵敏度分析 |
21-29 |
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3.4 设计效果比较 |
29-31 |
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3.5 稳健性设计分析 |
31-34 |
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3.5.1 稳健设计的基本原理 |
31-32 |
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3.5.2 稳健设计的两阶段法 |
32 |
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3.5.3 控制图的稳健设计 |
32-34 |
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3.6 设计方法的使用 |
34-36 |
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3.7 本章小结 |
36-37 |
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第四章 偏态分布情况下的控制图设计和分析 |
37-50 |
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4.1 赋权方差(WV)方法 |
37-39 |
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4.2 控制方案的设计 |
39-40 |
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4.3 最优设计灵敏度分析 |
40-45 |
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4.4 偏态最优设计与一般方法的比较 |
45-46 |
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4.5 偏态情况的稳健设计 |
46-48 |
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4.6 偏态情况最优设计的使用 |
48-49 |
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4.7 本章小结 |
49-50 |
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第五章 小样本、小批量控制图的设计 |
50-58 |
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5.1 目标图和比例图 |
50-52 |
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5.2 同分布变换 |
52 |
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5.3 小样本控制图的构造 |
52-53 |
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5.4 IX-MR控制图的效果评价 |
53-56 |
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5.5 IX-MR图设计的稳健性分析 |
56-57 |
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5.6 本章小结 |
57-58 |
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第六章 小波动控制图的设计和分析 |
58-68 |
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6.1 改进的小波动控制图 |
58-63 |
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6.2 EWMA图的设计 |
63-66 |
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6.3 EWMA图最优设计的应用 |
66-67 |
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6.4 本章小结 |
67-68 |
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第七章 计数控制图的设计与分析 |
68-76 |
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7.1 几种常用的计数控制图 |
68-71 |
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7.2 计数控制图的最优设计 |
71-75 |
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7.2.1 当以泊松分布为统计基础时 |
71-72 |
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7.2.2 当以几何分布为统计基础时 |
72-75 |
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7.3 本章小结 |
75-76 |
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结束语 |
76-77 |
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致谢 |
77-78 |
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参考文献 |
78-82 |
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| 【DOI】 | LunWen.ID:2.2008.15751 |