| 【中文题名】 | 光反馈自混合干涉系统的参数测量 |
| 【英文题名】 | |
| 【学科专业】 | 通信与信息系统 |
| 【论文级别】 | 硕士论文 |
| 【投稿时间】 | 2007-8-24 |
| 【中关键词】 | 半导体激光器,线宽展宽因数,光反馈,自混合干涉,适度光反馈, |
| 【英关键词】 | semiconductor laser,linewidth enhancement factor,optical feedback,self-mixing interference,moderate optical feedback, |
| 【分类导航】 | 工业技术>无线电电子学、电信技术>光电子技术、激光技术>激光技术、微波激射技术>激光器> |
| 【论文摘要】 |
光反馈自混合干涉技术是一项精密测量技术，其系统结构简单、紧凑且易准直。鉴于它的高灵敏性、高精确性和非接触操作性，该项技术已经得到广泛的研究和应用，主要应用在几何量的传感测量与激光器参数测量等方面。
线宽展宽因数，即α参数，是半导体激光器的一个重要参数，半导体激光器的许多特性都与该参数的大小有关，如线宽、线形、模式稳定及注入锁定范围等。
本文利用光反馈自混合干涉技术测量半导体激光器线宽展宽因数，针对适度光反馈水平下外腔做简谐振动的系统进行了如下研究：
首先，研究了光反馈自混合干涉系统模型；研究了适度光反馈水平下的信号特点；阐述了适度光反馈水平下，基于光反馈白混合干涉技术测量半导体激光器参数的基本理论。
其次，针对适度光反馈水平下参数测量对信号特征点的要求，研究了信号的去噪问题及归一化处理问题。
最后，给出了适度光反馈水平下最佳测量条件，建立了线宽展宽因数的自动测量算法，并通过仿真和实验验证了算法的精确性和可行性。仿真结果表明算法测量精确度较高，α的相对误差小于4.96％。实验结果表明α的相对标准差为3.26％。 |
| 【论文题纲】 |
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摘要 |
3-4 |
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ABSTRACT |
4-5 |
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目录 |
5-7 |
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第1章 绪论 |
7-16 |
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1.1 光反馈自混合干涉技术的研究历史 |
7-10 |
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1.2 光反馈自混合干涉系统参数测量的意义 |
10-14 |
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1.3 论文主要研究内容 |
14-16 |
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第2章 光反馈自混合干涉系统参数测量理论 |
16-26 |
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2.1 光反馈自混合干涉系统组成 |
16-17 |
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2.2 光反馈自混合干涉技术的应用 |
17-19 |
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2.3 光反馈自混合干涉系统基本模型 |
19-20 |
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2.4 适度光反馈机制下光反馈自混合干涉信号特点 |
20-23 |
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2.5 基于适度光反馈自混合干涉技术半导体激光器参数测量的基本理论 |
23-25 |
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2.6 本章小结 |
25-26 |
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第3章 自动测量算法研究与实现 |
26-36 |
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3.1 光反馈自混合干涉信号数据样本建立与分析 |
26-28 |
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3.2 一个周期光反馈自混合干涉信号的自动提取 |
28-30 |
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3.3 特征点提取及特征时间间隔的获取方法 |
30-31 |
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3.4 最佳条纹选取规则 |
31-33 |
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3.5 最佳测量条件 |
33 |
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3.6 自动测量算法的实现 |
33-35 |
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3.7 本章小结 |
35-36 |
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第4章 实测数据处理分析 |
36-53 |
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4.1 实验数据的获得 |
36-39 |
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4.2 噪声处理 |
39-46 |
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4.3 归一化处理 |
46-48 |
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4.4 实验验证分析 |
48-51 |
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4.5 本章小结 |
51-53 |
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第5章 结论与展望 |
53-54 |
|
致谢 |
54-55 |
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参考文献 |
55-60 |
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论文发表情况 |
60 |
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| 【DOI】 | LunWen.ID:2.2008.23933 |
