| 【中文题名】 | 非球面检测仪的研制 |
| 【英文题名】 | The Development of Aspheric Surface Testing Equipment |
| 【学科专业】 | 机械制造及其自动化 |
| 【论文级别】 | 硕士论文 |
| 【投稿时间】 | 2003-6-11 |
| 【中关键词】 | 非球面检测,电控系统,数据采集,串行通讯,, |
| 【英关键词】 | aspheric surface testing,electric-control system,data acquisition,serial communication, |
| 【分类导航】 | 工业技术>机械、仪表工业>仪器、仪表>光学仪器>光学计量仪器> |
| 【论文摘要】 |
针对目前对非球面光学零件的需求和非球面检测技术的现状，探索一种操作简便、通用性强、检测精度高的检测仪器具有重要的实用价值。
本文首先基于现阶段非球面的加工状况，提出了用接触式检测非球面的子午面面形曲线并与理论曲线相比较，从而得到非球面面形误差的检测原理，并根据该原理进行了机械结构的总体设计和电控系统的研究。电控系统采用上下位机串行通讯的控制方式，下位机以89C55为核心，驱动执行机构，并负责数据采集；上位机用VC++6.0作为开发平台，进行数据处理和图形显示。
本检测仪器采用高精度的机械构件和光栅传感器，电控系统采集、接收、处理数据正确，因而能够达到设计的检测精度要求。 |
| 【论文题纲】 |
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中文摘要 |
3-4 |
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英文摘要 |
4-5 |
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目录 |
5-7 |
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第一章 绪论 |
7-11 |
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§1．1 本课题研究的内容 |
7-8 |
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§1．2 本课题研究的意义 |
8-9 |
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§1．3 目前国内外非球面检验的方法 |
9-11 |
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第二章 非球面检测的原理 |
11-15 |
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§2．1 非球面理论 |
11-13 |
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§2．2 非球面检测的原理 |
13-15 |
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第三章 机械结构设计 |
15-23 |
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§3．1 总体结构设计 |
15-20 |
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§3．1．1 结构原理 |
15-17 |
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§3．1．2 总体结构 |
17-18 |
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§3．1．3 误差校正 |
18-20 |
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§3．2 机械构件选择 |
20-23 |
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第四章 电控系统的硬件设计 |
23-43 |
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§4．1 下位机系统的工作原理 |
25-28 |
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§4．2 下位机系统的硬件设计 |
28-38 |
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§4．3 下位机系统的软件设计 |
38-43 |
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第五章 上位机系统的软件设计 |
43-59 |
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§5．1 软件开发平台及协议 |
43-47 |
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§5．2 软件功能及流程图 |
47-58 |
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§5．3 测头误差补偿 |
58-59 |
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结论 |
59-60 |
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致谢 |
60-61 |
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参考文献 |
61-62 |
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附件1 非球面检测仪机械结构图 |
62 |
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附件2 非球面检测仪控制电路原理图 |
62 |
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附件3 非球面检测仪控制系统程序清单 |
62 |
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| 【DOI】 | LunWen.ID:2.2008.94709 |
