| 【中文题名】 | HgCdTe致冷红外焦平面阵列MTF测试技术研究 |
| 【英文题名】 | |
| 【学科专业】 | 物理电子学 |
| 【论文级别】 | 硕士论文 |
| 【投稿时间】 | 2002-5-31 |
| 【中关键词】 | HgCdTe,TDI,调制传递函数,红外焦平面阵列,线扩展函数,刀口扩展函数 |
| 【英关键词】 | HgCdTe,TDI,MTF,IRFPA,LSF,ESF,PSF,Measurement, |
| 【分类导航】 | 工业技术>无线电电子学、电信技术>光电子技术、激光技术>一般性问题>红外技术及仪器>红外探测、红外探测器 |
| 【论文摘要】 |
红外焦平面阵列(IRFPA)技术是发展二代热像仪的关键。十几年来，世界技术先进的国家，不惜耗费巨资开展研究，取得了令人瞩目的成就。随着IRFPA的不断发展，要求使用高精度的仪器测量集成FPA的各项性能参数。
MTF是用于系统设计、分析和规范的重要参数。焦平面阵列的MTF表征了热像仪的MTF。本论文针对带片上TDI的288×4HgCdTeIRFPA探测器，研究MTF的测试技术。这对填补我国IRFPA测试技术的空白，IRFPA的设计、研制，以及红外热像仪整机的评价具有重要意义。
本文各章内容如下：
第一章介绍了IRFPA的现状、发展及应用；IRFPA MTF测试技术的现状，阐述了本论文所做的工作。
第二章从MTF的物理意义出发，首先研究了IRFPA MTF的测试原理，具体分析了IRFPA MTF的主要测试方法，讨论了适用于本项目的刀口测试法；其次，从目标衍射和串音干扰两个方面分析了测试系统的衍射现象；最后讨论了减小统计误差的MTF计算方法。
第三章详细介绍了288×4HgCdTe IRFPA MTF测试系统，分析了红外光学系统、机械扫描... |
| 【论文题纲】 |
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中文摘要 |
2-3 |
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英文摘要 |
3-7 |
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1 绪论 |
7-20 |
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1．1 红外焦平面阵列（IRFPA）的现状、发展及应用 |
7-16 |
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1．1．1 IRFPA的现状与发展 |
7-15 |
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1．1．2 IRFPA技术的应用 |
15-16 |
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1．2 IRFPA调制传递函数测试技术的现状 |
16-18 |
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1．3 本论文所做的工作 |
18-20 |
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2 IRFPA MTF测试原理 |
20-42 |
|
2．1 调制传递函数的物理意义 |
20-26 |
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2．1．1 定义与表达式 |
20-22 |
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2．1．2 传递函数同物像亮度对比的关系 |
22-24 |
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2．1．3 串联系统的传递函数 |
24 |
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2．1．4 调制传递函数的特性 |
24-26 |
|
2．2 IRFPA MTF的测试方法 |
26-33 |
|
2．2．1 狭缝测试法 |
28-30 |
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2．2．2 小光点测试法 |
30-31 |
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2．2．3 刀口测试法 |
31-33 |
|
2．3 系统衍射现象分析 |
33-39 |
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2．3．1 直边衍射 |
33-38 |
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2．3．2 串音影响 |
38-39 |
|
2．4 减小统计误差的MTF计算方法 |
39-42 |
|
3 IRFPA MTF测试系统 |
42-67 |
|
3．1 系统整体结构 |
42-44 |
|
3．2 红外光学系统 |
44-50 |
|
3．3 机械扫描结构 |
50-53 |
|
3．4 信号处理模块 |
53-60 |
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3．4．1 IRFPA读出电路输出信号特征描述 |
53-55 |
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3．4．2 信号处理模块各组成部分 |
55-60 |
|
3．5 测试软件设计 |
60-67 |
|
3．5．1 信号处理与分析测试软件 |
61-63 |
|
3．5．2 A／D采集调试软件 |
63-67 |
|
4 系统测试结果与分析 |
67-78 |
|
4．1 系统设备调试结果与分析 |
67-74 |
|
4．1．1 黑体控温调试结果分析 |
67-69 |
|
4．1．2 光学系统调试结果分析 |
69-70 |
|
4．1．3 调制盘调试结果分析 |
70-72 |
|
4．1．4 刀口调试结果分析 |
72-73 |
|
4．1．5 A／D卡调试结果分析 |
73-74 |
|
4．2 MTF系统测试结果预测与分析 |
74-78 |
|
5 结束语 |
78-80 |
|
5．1 本论文的工作总结 |
78-79 |
|
5．2 有待进一步进行的工作 |
79-80 |
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参考文献 |
80-83 |
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攻读硕士学位期间发表的论文 |
83-84 |
|
致谢 |
84 |
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| 【DOI】 | LunWen.ID:2.2008.340101 |
