| 【中文题名】 | 台式电脑主板信号完整性(SI)检测方法的设计及应用 |
| 【英文题名】 | Table Model Computer Motherboard Signal Integrity (SI) Examination Method Design and Application |
| 【学科专业】 | 通信与信息系统 |
| 【论文级别】 | 硕士论文 |
| 【投稿时间】 | 2007-11-2 |
| 【中关键词】 | 信号完整性,传输线,反射,端接,, |
| 【英关键词】 | Signal integrity,Transmission line,Reflect,Termination, |
| 【分类导航】 | 工业技术>自动化技术、计算机技术>计算技术、计算机技术>电子数字计算机(不连续作用电子计算机)>基本电路> |
| 【论文摘要】 |
信号完整性(Signal Integrity,简称SI)是指一个信号在电路中产生正确的响应的能力。具有良好的信号完整性是指当在需要的时候,具有所必须达到的电压电平数值。差的信号完整性不是由某一单一因素导致的,而是板极设计中多种因素共同引起的。主要的信号完整性问题包括反射、振荡、地弹、串扰等。
信号完整性反映了发送端的信号能够被接受端正确接受的能力。现在高速数字系统信号的时钟频率达高到数百兆赫兹,系统的快斜率瞬变和极高的工作频率,以及很大的电路密集度,导致高速数字系统设计领域的信号完整性(SI)问题以及电磁兼容性(EMI)问题日趋严重。本课题是,在环旭电子有限公司(深圳)自主研发台式电脑主板的过程中,因信号完整性检测和电路设计不断优化要求产生的。
课题主旨是,根据台式电脑主板的设计需要,对各种需要考察的信号,设计一套完善的信号完整性(SI)检测方法。方案包括发生器,PCI与DDRⅡ,SATA与PCI-Express,USB和Ethetnet五大部分的检测。课题设计的检测方法已经成功应用于多个主板专案,如AM662L-SG95,AT656FX-SD8,SG-X5,IV9和SIS741GX... |
| 【论文题纲】 |
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摘要 |
6-7 |
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Abstract |
7-12 |
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第一章 绪论 |
12-14 |
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1.1 研究背景 |
12 |
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1.2 研究现状 |
12-13 |
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1.3 课题研究内容及意义 |
13-14 |
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第二章 基础知识 |
14-26 |
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2.1 传输线 |
14-19 |
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2.1.1 传输线定义 |
14 |
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2.1.2 PCB或MCM中的传输线结构 |
14-15 |
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2.1.3 传输线参数 |
15-18 |
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2.1.4 印制线中应用 |
18-19 |
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2.2 示波器 |
19-26 |
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2.2.1 示波器分类 |
20-21 |
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2.2.2 示波器参数 |
21-24 |
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2.2.3 探棒和附件 |
24-26 |
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第三章 针对CLOCK GEN的信号检测 |
26-45 |
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3.1 基础介绍 |
26-27 |
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3.1.1 缓冲器类型时钟驱动器 |
26 |
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3.1.2 带锁相环的时钟驱动器 |
26-27 |
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3.2 常见CLOCK GEN的SI问题 |
27-32 |
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3.2.1 偏斜 |
27-28 |
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3.2.2 抖动 |
28-31 |
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3.2.3 反射与多次反射 |
31-32 |
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3.3 设计时钟发生器的检测方法 |
32-36 |
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3.3.1 时钟基本工业标准 |
32-33 |
|
3.3.2 确定检测对象 |
33-34 |
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3.3.3 选择检测设备 |
34-36 |
|
3.3.4 具体检测步骤 |
36 |
|
3.4 检测方法的应用与SI问题解决 |
36-45 |
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3.4.1 引起反射的因素 |
36 |
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3.4.2 端接 |
36-39 |
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3.4.3 消除反射实例 |
39-45 |
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第四章 针对PCI与DDRII的信号检测 |
45-57 |
|
4.1 基础知识 |
45-48 |
|
4.1.1 PCI |
45-46 |
|
4.1.2 DDRII |
46-48 |
|
4.2 设计对应的检测方法 |
48-52 |
|
4.2.1 基本工业标准 |
48-50 |
|
4.2.2 确定检测对象 |
50-51 |
|
4.2.3 选择检测设备 |
51-52 |
|
4.2.4 具体检测步骤 |
52 |
|
4.3 检测方案的应用与SI问题解决 |
52-57 |
|
第五章 针对SATA与PCI-Express信号检测 |
57-67 |
|
5.1 基础知识 |
57-60 |
|
5.1.1 Serial ATA |
57-58 |
|
5.1.2 从PCI到PCI-X到PCI Express |
58-60 |
|
5.2 设计对应的检测方法 |
60-64 |
|
5.2.1 基本工业标准 |
60-63 |
|
5.2.2 确定检测对象 |
63-64 |
|
5.2.3 选择检测设备 |
64 |
|
5.2.4 具体检测步骤 |
64 |
|
5.3 检测方法的应用与SI问题解决 |
64-67 |
|
第六章 针对USB的信号检测 |
67-79 |
|
6.1 基础知识 |
67-68 |
|
6.1.1 USB1.1 |
67 |
|
6.1.2 USB2.0 |
67-68 |
|
6.2 设计对应的检测方法 |
68-74 |
|
6.2.1 基本工业标准 |
68 |
|
6.2.2 选择检测设备 |
68 |
|
6.2.3 确定检测对象 |
68 |
|
6.2.4 具体检测步骤 |
68-74 |
|
6.3 检测方法的应用与SI问题解决 |
74-79 |
|
6.3.1 High-Speed Signal Quality测试 |
75-77 |
|
6.3.2 Full-Speed Signal Quality测试 |
77-78 |
|
6.3.3 Droop Test |
78-79 |
|
第七章 针对Ethernet的信号检测 |
79-88 |
|
7.1 基础知识 |
79-80 |
|
7.2 设计对应的检测方法 |
80-84 |
|
7.2.1 基本工业标准 |
80 |
|
7.2.2 确定检测项目 |
80-83 |
|
7.2.3 选择检测设备 |
83 |
|
7.2.4 具体检测步骤 |
83-84 |
|
7.3 检测方法的应用与SI问题解决 |
84-88 |
|
7.3.1 10Base-T以太网接口测试 |
84-85 |
|
7.3.2 100Base-TX以太网接口测试 |
85-86 |
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7.3.3 设计优化后图形 |
86-88 |
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第八章 总结与展望 |
88-90 |
|
8.1 主要工作和成果 |
88-89 |
|
8.2 创新性与展望 |
89-90 |
|
致谢 |
90-91 |
|
参考文献 |
91-93 |
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| 【DOI】 | LunWen.ID:2.2008.364691 |