| 【论文摘要】 |
随着现代制造业的不断发展,精密和超精密加工技术的重要性日益凸显。数控机床作为加工的重要装备,也面临了新时代的机遇和挑战。提高数控机床的精度是提高数控机床产品质量、增强市场竞争力的关键所在。数控机床的误差问题成为了其发展的关键。测量技术则是改善与补偿机器误差的重要前提。
圆轨迹测量对数控机床测量技术中重要的一个方面。现有的数控机床圆轨迹测量方法与设备,已经不能完全满足当代精密,高速加工的要求。新的测量技术的需求比较迫切。随着激光技术的发展,将激光技术与传统圆测法相结合,为数控机床的圆轨迹测量提出了新思路。本文系统阐述了数控机床的非接触式激光测量方法,并从以下几个方面进行了具体说明:
(1)介绍新的数控机床测量方法――非接触式激光测量。对现有的数控机床误差综合测量方法设备进行归纳总结,分析他们的基本实现方式以及优缺点,并在此基础上介绍非接触式激光测量这一新的测量方法。对其物理结构,测量步骤,特点和优点进行了详细说明,并介绍了其原理和基本数学模型。
(2)综合误差轨迹辨识方法和原理。在阐明数控机床误差源与圆轨迹之间的关系的基础上,着重推导了数控机床主要几何误差源的数学模型,并通过计... |
